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产品分类技术文章/ article
V4™容积式送粉器V4™是一款重型、高容量的容积式粉末进料器,专为HVOF、HVAF、等离子、冷喷涂、激光熔覆等热喷涂工艺和其他工业应用...
什么是冷冻破碎机?如右图所示,冷冻粉碎机(冷冻粉碎机)是通过将装有碳化钨钢球和样品的样品容器安装到研磨棒上,然后将研磨棒安装到主体上并将研磨棒放置在研磨棒上而构成的。将整个样品容器浸泡在液氮中。待样品和钢球充分冷却后,上下移动研磨棒,使样品...
F3-CSFilmetrics的F3-CS专门为了微小视野及微小样品测量设计,任何人从一线操作到研&发人员都可以此簡易USB供电系统在數秒钟内测量如聚对二甲苯和真空镀膜层厚度.我们的自動校正功能大幅缩短测量设置並可自动调节仪器的灵敏度,使用...
F10-RT同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。只需传统价格的一小部分,用户就能进行分析、确定FWHM并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用FilmetricsF10的分析...
F10-ARc走在前端以较低的价格现在可以很容易地测量曲面样品,包括眼镜和其他光学镜片的防反射涂层,仅需其他设备一小部分的的价格就能在几秒内得到精确的色彩读值和反射率测量.您也可选择升级薄膜厚度测量软件,操作上并不需要严格的训练,您甚至可以...
F3-sX系列F3-sX系列能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度较为不佳波长选配F3-sX系列使用近红外光来测量薄膜厚度,即使有许多肉眼看来不透光(例如半导体)。F3-s980是波长为980...
F20系列畅销的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的filmetrics台式薄膜厚度测量系统F20。设置同样简单,只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口,并连接样品平台,F20已在世界各地有...
光谱分析仪(光谱分析仪,OSA)特征提供通用(OSA20xC)和高性能(Redstone®OSA30x)型号光谱测量模式下的分辨率OSA20xC:7.5GHz(0.25cm-1)OSA30x:1.9GHz(0.063cm-1)波长计...
点击放大Photon-配对光源SPDC810,连接连接线P1-780PMAR-2(随附)用于信号和闲频光输出高效率预告比:0.45光子对生成速率:450kHz激发(泵浦)激光功率调节范围:最大150mW波长稳定性:±2.5nm...
相关光子与光源高效率预告比:0.45光子对生成速率:450kHz激发(泵浦)激光功率调节范围:最大150mW波长稳定性:±2.5nm光子带宽:约10nm通过RS232串行通讯进行远程操作SPDC810相关光子对光源内置405n...
窄带相关光子对光源高效率预告比:0.30光子对生成速率:100kHz激发(泵浦)激光功率调节范围:最大40mW波长稳定性:±0.1nm光子带宽:波长调谐范围:高达8nm前面板控制或通过USB远程控制SPDC810N窄带相关光子...